Архив меток: Полупроводник

Растровые электронные микроскопы сегодня являются одним из ключевых инструментов научных исследований и промышленного контроля. Эти высокоточные приборы позволяют изучать структуру материалов на микро- и наноуровне, получая детализированные изображения поверхности с недостижимым для оптической микроскопии разрешением. Принцип работы растрового электронного микроскопа В основе работы РЭМ лежит использование сфокусированного пучка электронов, который последовательно сканирует поверхность образца. При взаимодействии электронов с материалом возникают ...

Фото: Евгений Сорочин / «Газета.uz» Президент Узбекистана Шавкат Мирзиёев 25 декабря подписал закон, предусматривающий расширение налоговых льгот для высокотехнологичных отраслей, транспорта, креативной экономики и отдельных секторов промышленности. Согласно документу, обнуляется ставка налога на прибыль с доходов от реализации продукции, произведённой с использованием высоких технологий. При этом среднегодовая остаточная стоимость оборудования, применяемого для её производства, будет вычитаться из налоговой базы по налогу на имущество. Перечень производителей высокотехнологичной продукции, подпадающих под льготы, ...