Архив меток: Оптический микроскоп

Растровые электронные микроскопы сегодня являются одним из ключевых инструментов научных исследований и промышленного контроля. Эти высокоточные приборы позволяют изучать структуру материалов на микро- и наноуровне, получая детализированные изображения поверхности с недостижимым для оптической микроскопии разрешением. Принцип работы растрового электронного микроскопа В основе работы РЭМ лежит использование сфокусированного пучка электронов, который последовательно сканирует поверхность образца. При взаимодействии электронов с материалом возникают ...

Читать далее »